六氟化钨
六氟化钨为氟与钨形成的无机化合物,化学式WF6。它是无色、有毒、具腐蚀性的气体,密度约为13 g/L,是空气密度的约11倍[1][2][3],也是密度最大的气体之一。[4]半导体器件制造行业通常用WF6的化学气相沉积来形成钨膜。这一层膜用于低电阻率的金属互联。[5]它是十七种已知的二元六氟化物之一。
六氟化钨 | |||
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IUPAC名 Tungsten hexafluoride Tungsten(VI) fluoride | |||
识别 | |||
CAS号 | 7783-82-6 ? | ||
PubChem | 522684 | ||
SMILES |
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InChI |
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性质 | |||
化学式 | WF6 | ||
297.830 g·mol⁻¹ | |||
外观 | 无色气体 | ||
密度 | 12.4 g/L,气态 4.56 g/cm3 (-9 °C,固态) | ||
熔点 | 2.3 °C(275 K) | ||
沸点 | 17.1 °C(290 K) | ||
溶解性(水) | 水解 | ||
结构 | |||
分子构型 | 八面体 | ||
偶极矩 | 0 | ||
危险性 | |||
欧盟编号 | 未列出 | ||
闪点 | 不可燃 | ||
相关物质 | |||
其他阴离子 | 六氯化钨 六溴化钨 | ||
其他阳离子 | 六氟化铬 六氟化钼 | ||
相关化学品 | 四氟化钨 五氟化钨 | ||
若非注明,所有数据均出自标准状态(25 ℃,100 kPa)下。 |
结构
WF6分子是八面体形的,空间对称群 Oh。它的W–F键长为 pm。 183.2[6] 在2.3到17 °C之间,六氟化钨会凝聚成浅黄色液体,密度 g/cm3( 3.44 °C)。在 15 °C以下时,它会凝固成立方晶系的白色固体,晶格参数628 pm,计算的密度为 2.3 g/cm3。在 3.99 °C以下,六氟化钨晶体会变成 −9正交晶系,晶格参数a = pm 960.3、b = pm 871.3和c = pm 504.4,密度为 g/cm3。在这个相态下,W–F键长为181 pm,平均最接近的分子间距离是 4.56 pm。WF6气体是已知密度最高的气体之一,甚至比 312氡(9.73 g/L)还高。液态和固态WF6的密度中等。[7] WF6在-70到17 °C下的蒸汽压可以通过以下方程描述:
- log10 P = 4.55569 − 1021.208/ T + 208.45,
制备
六氟化钨通常是由氟气和钨粉在350至400 °C下直接反应而成的:[10]
- W + 3 F2 → WF6
反应产生的气态产物通过蒸馏与常见的杂质WOF4分离。在直接氟化的一种变体中,将金属置于加热的反应器中,略微加压至1.2至2.0 psi(8.3至13.8 kPa),把恒定流量的WF6注入到少量氟气中。[11]
反应中的氟气可以被替换成ClF、ClF
3或BrF
3。另一种制备六氟化钨的方法是三氧化钨(WO3)和HF、 BrF3或SF4的反应。六氟化钨也可以从六氯化钨开始合成:[4]
- WCl6 + 6 HF → WF6 + 6 HCl
- WCl6 + 2 AsF3 → WF6 + 2 AsCl3
- WCl6 + 3 SbF5 → WF6 + 3 SbF3Cl2
反应
六氟化钨会和水反应,形成氢氟酸(HF)和钨的氟氧化物,最终形成三氧化钨:[4]
- WF6 + 3 H2O → WO3 + 6 HF
WF6并不是一种有用的氟化剂,也不是强氧化剂。它可以被还原成黄色的WF4。[12]
应用
六氟化钨主要应用于半导体工业的化学气相沉积工艺中,以沉积钨金属。1980年代和1990年代该行业的扩张导致WF6的消费量增加,全球每年的消费量仍保持在200吨左右。钨金属因其相对较高的热稳定性和化学稳定性,以及低电阻(5.6 µΩ·cm)和电迁移而具有吸引力。由于WF6有较高的蒸气压,导致较高的沉积速率,因此优于如WCl6或WBr6的相关化合物。自1967年以来已经开发并采用了两条WF6的沉积路线,即热分解和用氢气还原。[13]这个工艺需要的WF6气体纯度很高。根据应用的不同,六氟化钨需要的纯度在99.98%和99.9995%之间变化。[4]
在化学气相沉积中,WF6分子需要分解,通常通过与氢气、甲硅烷、甲锗烷、乙硼烷、磷化氢和相关的含氢气体混合促进分解。
硅
WF6会和硅基质反应。[4]WF6在硅上的分解反应依赖于温度:
- 2 WF6 + 3 Si → 2 W + 3 SiF4 (低于400 °C)
- WF6 + 3 Si → W + 3 SiF2 (高于400 °C)
这种依赖性至关重要,因为在较高温度下消耗的硅是低温下的两倍。钨的沉积仅选择性地发生在纯硅上,在氧化硅或氮化硅上则不能,因此该反应对污染或基板预处理高度敏感。这条分解反应较快,但当钨层厚度达到10–15微米就饱和了。这是因为钨层阻止了WF6分子扩散到硅基质,而硅是该过程中分子分解的唯一催化剂。[4]
如果分解反应不是在惰性环境,而是在含氧环境中发生,产生的层就会是氧化钨,而不是金属钨。[14]
参考文献
- Roucan, J.-P.; Noël-Dutriaux, M.-C. . Ed. Techniques Ingénieur. : 138 [2021-12-15]. (原始内容存档于2022-01-04).
- Gas chart (页面存档备份,存于) (dead link 3 September 2019)
- (PDF).
- Lassner, E.; Schubert, W.-D. . Springer. 1999: 111, 168 [2021-12-15]. ISBN 0-306-45053-4. (原始内容存档于2022-01-04).
- . CVD Fundamentals. TimeDomain CVD. [2021-12-15]. (原始内容存档于2009-09-14).
- Lide, D. R. (编), 86th, Boca Raton (FL): CRC Press, 2005, ISBN 0-8493-0486-5 p. 4-93.
- Levy, J. . Journal of Solid State Chemistry. 1975, 15 (4): 360–365. doi:10.1016/0022-4596(75)90292-3.
- Cady, George H.; Hargreaves, George B. . Journal of the Chemical Society (Resumed) (Royal Society of Chemistry (RSC)). 1961: 1568. ISSN 0368-1769. doi:10.1039/jr9610001568.
- . [2021-12-15]. (原始内容存档于2021-12-15).
- Priest, H. F.; Swinehert, C. F. . Audrieth, L. F. (编). 3. Wiley-Interscience. 1950: 171–183. ISBN 978-0-470-13162-6. doi:10.1002/9780470132340.ch47.
- US patent 6544889,「Method for tungsten chemical vapor deposition on a semiconductor substrate」,发行于2003-04-08
- Greenwood, N. N.; Earnshaw, A. 2nd. Oxford: Butterworth-Heinemann. 1997. ISBN 0-7506-3365-4.
- Aigueperse, J.; Mollard, P.; Devilliers, D.; Chemla, M.; Faron, R.; Romano, R.; Cuer, J.-P. . Ullmann (编). . Weinheim: Wiley-VCH. 2005.
- Kirss, R. U.; Meda, L. (PDF). Applied Organometallic Chemistry. 1998, 12 (3): 155–160 [2021-12-16]. doi:10.1002/(SICI)1099-0739(199803)12:3<155::AID-AOC688>3.0.CO;2-Z. hdl:2027.42/38321 . (原始内容 (PDF)存档于2021-08-28).
- (PDF). Linde Gas. (原始内容 (PDF)存档于2010-02-12).